X射线荧光光谱合金分析仪

1.X射线荧光光谱分析仪测试原理
将试样放在原级X射线的通道上，试样中各元素的原子被原级X射线照射后，分别发出各自特征的荧光X射线，利用分析晶体将各元素的特征荧光X射线分辨出来，以探测系统记录被测元素的特征荧光X射线强度。在测试条件下，X射线强度与该元素的含量呈一定的线性关系，据此线性关系进行计算，就可以计算出被测元素的含量。
2.优化建立应用程序（标准曲线）
X射线荧光光谱分析仪是一种相对测量仪器，用于测量已准确了解化学分析结果的标准。
对计算机获得的特征X射线强度数据进行一系列数学处理，计算工作曲线。建立正确的应用程序（标准曲线）是准确分析荧光计的基础。
2.1选择一个代表性的标准样品。每组曲线应有10个样本，尽可能在生产控制中使用样本，化学成分应有一定的梯度。每个要素的内容应涵盖实际生产可实现的范围。如果样品梯度不能拉开，则必须在实际采矿区域内采样，以使样品的物理性质相同。

2.2准确分析标准样品。为了很大限度地消除人为错误，标准样本通常需要3名具有3年以上分析经验的分析师进行平行化学分析，然后取平均值。常用的化学分析是几乎所有快速光谱技术校准的基础。化学分析值必须准确。否则，一切都无法讨论。确保分析结果的准确性并为荧光分析的校准提供准确的基础是有必要的。
2.3建立标准曲线后，为使工作曲线正常投入使用，应校正曲线。使用后，为确保仪器分析的准确性，应定期将具有已知化学成分的样品（标准样品）与荧光分析进行比较。更正。如果线性回归不是很好，那么就有必要通过经验系数或标准的增删来做些微的调整。如果工作曲线过大，则必须重新建立新的工作曲线。为了确保仪器分析的准确性，应该每天采集一次标准样品，并与一次的化学分析进行比较。
3.基体效应
3.1矿物效应主要是由于材料的化学成分相同，由于不同的结晶形式导致不同的X射线荧光强度，这导致错误。对于水泥公司来说，由于原材料中的原材料来源不同，并且具有不同的矿物结构，所以只有当样品磨至小于400目时才能减少原材料中的原材料。然而，有效的措施是融合方法。
3.2颗粒效应是指样品中的颗粒直径，颗粒分布的颗粒形状以及颗粒内部不均匀所引起的物理效应。在水泥原料中，钙和硅的测定有很大的影响。由于粒子效应，包含在X射线照射的有效体积中的测试元素的粒子数量改变以影响X射线荧光的强度，导致分析结果中的误差。
3.3元素间效应是指样品中其他元素的待测元素的X射线荧光强度的相互影响，也称为吸收增*应。当矩阵效应发生较大变化时，可以用样条函数和数学公式来补偿和修正矩阵效应。

操作因素：
（1）研磨过程中样品的粒度和粒度分布，未设定研磨时间，没有达到所需的研磨粒度或相应的粒度分布，并且元件中的X射线强度也是受影响很大。影响。实验表明，当研磨时间短于测试设定时间时，测量结果会波动。同时，在制作标准样品和研磨粉末的标准曲线之前，*行研磨测试以确定研磨时间。
（2）研磨时加入适量的粘结剂或助磨剂，粘结剂或助磨剂应与工作曲线相同，且不含待分析元素，否则会对测量结果产生较大影响。。每种材料的研磨盘分离或研磨并清洁。例如，如果之前的样品留在研磨盘中或被其他物质污染，结果可能会相对较大。
（3）样品的压缩：将所制备的粉末小心地放入模具中，每次放置的样品量基本与工作曲线的标准相同，并用进料器平整以防止样本布被使用。发生不均匀和不均匀的样本密度。粉末样品包装在铝杯，塑料环或钢圈中。X射线荧光强度与压制样品的压力和样品的粒度密切相关。
（4）压片时，在不设定时间和压力的情况下，将压力30t保持时间设定为20s以符合要求。
如果压力不好或者压片过程中片剂不干净或者顶部有先前的样品，分析结果将受到影响。
（5）样品的分析表面应保护好样品制备。禁止用手指触摸脸部，用嘴吹，用湿毛巾等擦拭分析表面。应该用注射器或吸尘器进行疗效。在荧光分析中，粉状片剂样品不应长时间置于空气中，导致分析表面和空气传播材料发生物理和化学变化。
（6）样品放入样品杯时的位置不正确。将样品放下或样品表面倾斜到样品盒的表面。这将影响管与分析表面之间的距离，从而给出分析结果误差。